摘要：
目的:分析早产儿脑损伤诊断中T1WI-T2WI与弥散加权成像的应用及其相关危险因素,为临床诊断提供参考。方法:回顾性分析我院近几年收治早产儿临床资料,采用T1WI-T2WI与弥散加权成像诊断早产儿脑损伤,并进行单因素分析,对有统计学意义的因素进行Logistic回归分析。结果:收治早产儿422例,共213例脑损伤。其中98例为缺血性脑损伤（包括非出血性损伤33例局灶性异常信号,49例广泛性异常信号,16例PVL）,91例为出血性脑损伤,24例缺血性脑损伤伴随出血性脑损伤。早产儿脑损伤单因素分析包括急产、双胎妊娠、循环障碍、低钙血症等。Logistic回归分析显示,危险因素包括产道分娩、母孕期感染、低钠血症等。产前使用硫酸镁是保护因素。结论:早产儿脑损伤危险因素包括母孕期感染、糖尿病,分娩过程以及生活环境等,围生期应尽量避免这些因素,减少神经系统并发症。
